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產(chǎn)品中心
| 品牌 | Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 交通,冶金,航天,汽車 |
- 電磁測(cè)厚儀DeltaScope FMP30
- 良好的涂鍍層測(cè)厚儀：
涂鍍層測(cè)厚儀 FMP10 FMP20 FMP30 FMP40新一代手提式儀器和可更換的探頭可以提供無(wú)損且高精度的涂鍍層厚度測(cè)量。無(wú)論是生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制，還是在來(lái)料檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會(huì)提供友好的用戶體驗(yàn)和多樣的選擇來(lái)滿足您的需求。由于采用了模塊化設(shè)計(jì)，您可以為您的特殊需求分別選擇儀器和探頭。對(duì)于儀器，您可以根據(jù)您的應(yīng)用從新的FMP家族（參見右側(cè)表格）中選??；對(duì)于探頭，我們?yōu)槟峁┝舜罅扛呔鹊奶筋^，相信一定有一款適合您。
特殊功能：
• 根據(jù)磁感應(yīng)法和（或）電渦流法無(wú)損測(cè)量涂鍍層厚度。
• 自動(dòng)識(shí)別探頭和基材。
• 堅(jiān)固的外殼及高對(duì)比度大尺寸圖形顯示器。
• 儀器操作簡(jiǎn)單，具備多種統(tǒng)計(jì)評(píng)估能力。
• USB 接口可以連接計(jì)算機(jī)，F(xiàn)MP30-40 還可以連接打印機(jī)。
• 創(chuàng)新的探頭技術(shù)使得測(cè)量更準(zhǔn)確，測(cè)量范圍更廣。應(yīng)用:
可以測(cè)量鐵材或鋼材上非鐵磁金屬鍍層的厚度，例如：鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、搪瓷和塑料鍍層。
FMP30和FMP40型儀器比基本款的FMP10和FMP20型儀器擁有更多的功能。例如：可以儲(chǔ)存更多應(yīng)用程式的大內(nèi)存、大量的圖形和統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能等。這樣就能適用于更加廣泛的應(yīng)用、滿足客戶更高的要求。上下限公差的自由輸入可以幫助客戶對(duì)生產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行更全面的分析和統(tǒng)計(jì)。更多種測(cè)量方式可供選擇，幫助您完成理想的測(cè)量。
儀器功能：
•自動(dòng)識(shí)別探頭
•儀器操作界面友好
• 240x160像素高對(duì)比度大尺寸顯示屏
•開機(jī)后即可測(cè)量
•插入探頭即可測(cè)量
•測(cè)量完成后聲音提示
•通過(guò)簡(jiǎn)單的零位修正就能適應(yīng)底材形狀(歸一化)
•校準(zhǔn)簡(jiǎn)便(使用一到兩片箔片)
•針對(duì)罕見材料或者形狀復(fù)雜的產(chǎn)品設(shè)置主校準(zhǔn)模式
•可以調(diào)節(jié)儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)間和連續(xù)使用時(shí)間
•儀器狀態(tài)顯示(例如：電量低時(shí)出現(xiàn)的警告信息)
•鍵盤鎖/功能限制模式
•滑蓋保護(hù)鍵盤
•多語(yǔ)言顯示
•測(cè)量結(jié)果的單位可在μm和mils之間切換•外部觸發(fā)測(cè)量（例如：測(cè)量直徑很小的空心圓柱體的內(nèi)壁）
•使用未知材料的鍍層進(jìn)行校準(zhǔn)（僅限于磁感應(yīng)法）
•USB接口可以連接計(jì)算機(jī)和打印機(jī)
•電池供電和交流電源(可選件)供電
應(yīng)用程式存儲(chǔ)
•可以儲(chǔ)存100個(gè)應(yīng)用程式，包括校準(zhǔn)信息。
•可以儲(chǔ)存20,000個(gè)讀數(shù)
•可以儲(chǔ)存4,000個(gè)數(shù)據(jù)組
•數(shù)據(jù)組包含日期和時(shí)間信息
•糾正已儲(chǔ)存的讀數(shù)
•應(yīng)用程式關(guān)聯(lián)功能：多個(gè)應(yīng)用程式能使用相同的歸一化/校準(zhǔn)信息
•通過(guò)電腦計(jì)算機(jī)可以編輯應(yīng)用程式名稱（可選件：MP-Name軟件）
統(tǒng)計(jì)和計(jì)算
•數(shù)據(jù)組統(tǒng)計(jì)值和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)值
•測(cè)量數(shù)據(jù)直方圖顯示
•可輸入上下限公差并估算cp和cpk值
•測(cè)量結(jié)果超出公差范圍時(shí)儀器發(fā)出視覺和聲音警告
測(cè)量方式
•連續(xù)測(cè)量模式下，測(cè)量數(shù)據(jù)可在上下限公差范圍內(nèi)模擬顯示
•可使用矩陣測(cè)量模式進(jìn)行大量測(cè)量
•取平均值：只儲(chǔ)存若干個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值
•區(qū)域測(cè)量：提起探頭后才儲(chǔ)存測(cè)量過(guò)程中的平均值
•自動(dòng)測(cè)量：無(wú)需提起探頭，儀器自動(dòng)獲得數(shù)值
•離奇值控制：儀器可自動(dòng)排除錯(cuò)誤的測(cè)量值
探頭選擇：
